Design-to-Test Solutions
Test Solutions
Design-To-Test Solutions
ITEK은 고객의 Design-to-Test, Time-to-Market, Time-to- Volume Production 및 Test Cost를 줄이는
최선의 Solution을 다음과 같이 제공합니다.
- Test Development
- Test Vector Conversion
- Probe Card and Load Board Design
- Test Data Management
- Test Status and Yield Monitor
Test Status and Yield Monitor
ITEK은 365일 24시간 On-Line Monitoring System(OMS)을 가동하고 있으며 고객께서는 부여 받은 Username과
Password로 Log on 하시어 Test Status 및 Test Yield 등을 Monitor 할 수 있습니다.
