Probe Test
Test Services
Probe Test
Probe test는 FAB공정이 완료된 Wafer내 개별 Chip의 전기적 특성검사를 하는 공정입니다.
ITEK은 경쟁력 있는 Wafer Probe Test Service를 다음과 같이 제공합니다.
- - As per Customer’s Device Specifications, Parameters, Vectors and Test Programs
- - 6, 8 & 12” Wafers and Bumped Wafers
- - Temperature Range : -55 ℃ to +150 ℃
- - Class 1K Particle Environment
